一、微分干涉金相顯微鏡儀器的主要用途和特點 DMM-5000微分干涉金相顯微鏡采用優質的無限遠光學系統，同時配備明暗場通用的長工作距離平場平場消色差物鏡，多光路的系統設計，可同時支持雙目鏡筒觀察和數碼攝像裝置觀察。DMM-5000倒置金相顯微鏡可廣泛應用于研究金屬的顯微組織，能在明場、暗場、偏光、微分干涉下進行觀察和攝影，配備專用軟件，更可同步進行測量分析。可供研究單位、冶金、機械制造工廠以及高等工業院校進行金屬學與熱處理、金屬物理學、煉鋼與鑄造過程等金相試驗研究之用。DMM-5000高級正置金相顯微鏡，選用優質的光學元件，配有超大視場目鏡、落射照明器、平場無限遠長工作距離明暗場物鏡，可選用微分干涉（DIC）觀測、獲得高清晰的圖像，使圖像襯度更好。是針對半導體晶圓檢測、太陽能硅片制造業、電子信息產業、治金工業開發的，作為高級工業金相顯微鏡使用。可進行明暗場觀察、落射偏光、DIC觀察，廣泛用于工廠、研究機構、高等院校對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。 DMM-5000D電腦型微分干涉金相顯微鏡是將精銳的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、尖端的計算機成像技術*地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。既可人工觀察金相圖像,又可以在計算機顯示器上很方便地適時觀察金相圖像，并可隨時捕捉記錄金相圖片,從而對金相圖譜進行分析,評級等,還可以保存或打印出高像素金相照片。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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