測量平板的詳細(xì)說明：

測量平板平面度的檢驗(yàn)： 測量平板的平面度的檢驗(yàn)，和以前的標(biāo)準(zhǔn)有了不一樣的概念，使用中不再一味的追求測量平臺(tái)的接觸點(diǎn)，一般的使用可以把側(cè)重點(diǎn)放在平面度的檢驗(yàn)上即可，由于現(xiàn)在的工件和測量平臺(tái)的規(guī)格不斷的增大，所以工件對測量平臺(tái)的要求也在發(fā)生變化，測量平臺(tái)的接觸點(diǎn)的多少和測量平臺(tái)的加工成本有著很大的關(guān)系，因此，明智的用戶已經(jīng)不再刻意的要求測量平臺(tái)接觸點(diǎn)了。

測量平板的技術(shù)參數(shù)主要包括：測量平臺(tái)的承載、測量平臺(tái)的長寬高、測量平板的表面精度、測量平臺(tái)的重量、測量平臺(tái)的材質(zhì)要求等等。

測量平臺(tái)的材質(zhì)：可以分為球鐵和灰鐵兩類。球鐵測量平臺(tái)的使用比較少，一般使用在規(guī)格較小，精度要求較高的測量平臺(tái)