UV-7504PC(756MC)紫外可見分光光度計，13301919671求購，上海生產，可連接電腦，價格，生產，銷售，紫外可見分光光度計，紫外光分光光度計，紫外分光光度計，紫外光度計，可見光光度計，紫外光譜儀，梅特勒-托利多電子分析天平，適用行業：煙草加工業、制酒業、油脂行業、食品加工業、化妝品行業、制藥行業、防疫檢測等，行銷上海，江蘇，浙江，南京，北京，天津，山東，重慶，成都，湖南，廣東等地。
性能指標：
光譜帶寬：　　　　4nm
波長范圍：　　　　200～1000nm
波長最小間隔(nm)：波長自動　0.1 nm
波長精度：　　　　±1nm
基線平直度：　　　±0.004A
穩定性：　　　　　±0.004A/h　(在500nm)
雜散光：　　　　　≤0.3%T在(在220、340、400nm)
測量范圍：　　　　0-125%T　-0.097-2.50A　0-1999C、0-1999F
光度精度：　　　　±0.5%T
備注：　　　　　　單光束　帶掃描