微分干涉顯微鏡

WFX-10顯微鏡穩定可靠，操作方便，成像清晰,圖像輸出功能。廣泛應用于半導體、電子工業。對晶體、集成電路的檢驗和科學研究。WFX-10顯微鏡為無限遠光學系統，采用長工作距離平場復消色差物鏡，穩定可靠的架臺，精確的調焦機構。

lLED同軸落射光源和LED透射光源照明系統。

l偏光系統檢偏鏡可轉動100度便于偏光正交觀察。

l可調節的DIC棱鏡插板可得到最佳的微分干涉效果。

l視野單目觀察，減少很多中間環節，成像更清晰。

l可以配置各種圖像采集設備。

顯微鏡用途：

1．明場觀察：亮度可調的同軸照明，適用晶體、集成電路的檢驗、精密制造業的裝配、零件檢測和品質控制。

2．透射觀察：亮度可調的透射照明，可觀察透明樣品，尤其對液晶顯示屏的檢測效果更好，能清楚觀察檢測發光屏的三色模塊。

3．偏光觀察：系統內裝置偏光機構，起偏鏡固定在照明系統；檢偏鏡裝置在成像系統、100度可調，便于正交觀察。主要對金相樣品進行正交偏振光觀察，還可應用于礦物、化學等領域。

4.    DIC觀察--微分干涉觀察：在明場、偏光正交的系統里再插入DIC棱鏡裝置（渥拉斯頓棱鏡）。DIC作為一種極具前途的分析檢驗方法，具有對金相樣品的制備要求較低，所觀察到的樣品各組成之間的相對層次關系突出，呈明顯的浮雕狀，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷，能夠容易判斷許多明場下所看不到的或難于判別的一些結構細節或缺陷，可進行彩色金相攝影等優點。

尤其對液晶顯示屏導電板的檢測效果更好，能夠清楚的觀察到導電板基板上的導電粒子。使用DIC技術，可以使物體表面微小的高低差展現出清晰，輪廓突出，帶立體感的浮雕成像，極大的提高圖像的對比度。

明場觀察	DIC觀察導電粒子

規格配置：

1.無限遠光學系統：f=200mm

2.放大位數：50X、100X、200X、500X

3.長工作距離：5~45mm

4.調焦范圍：60mm

5.工作臺：260X220mm、玻璃臺版：170X150mm

6.移動范圍：X：±75mm、 Y：±75mm